牛津儀器920熒光光譜儀 X-Strata920

品牌：Oxford Instruments牛津儀器  

型號：X-Strata920

奔藍科技（昆山）有限公司專業(yè)代理英國Oxford Instruments牛津儀器X-Strata920 X射線熒光鍍層厚度測量儀(X-ray Fluorescence Measurement System)及配件！我司集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

牛津儀器920熒光光譜儀：是牛津儀器新開發(fā)的新一代鍍層膜厚儀，是X-Strata920膜厚儀的升級產品，將逐漸取代膜厚儀CMI900，是X射線熒光(XRF)鍍層膜厚儀，無損測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，快速簡潔只需要10秒即可得出測量結果，是質量控制、節(jié)約成本的*檢測工具。

利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。

是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

鍍層測厚儀X-Strata系列提供：

無損分析：無需樣品制備

經行業(yè)認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益

操作簡單，只需要簡單的培訓

分析只需三步驟

杰出的分析準確性和精確性

在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗

鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。

X-Strata920鍍層測厚儀的優(yōu)勢：

一、高性能、高精度、長期穩(wěn)定性

快速精確的分析帶來生產成本*化

精確測定元素厚度

優(yōu)化的性能可滿足廣泛的元素測量

二、堅固耐用的設計

可靠近生產線或在實驗室操作

生產人員易于使用

三、簡單的校準調試

在沒有標準片時，經驗系數(shù)法或基本參數(shù)法可以提供簡單可靠的定量結果

方法建立只需幾分鐘

我們提供認證標準片以確保*精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

預置了多種校準參數(shù)

四、可分析多種樣品形狀和尺寸

可分析多種樣品類型，從微小的電子元件到浴室配件

提供多種硬件供選配，滿足各種需要

X-Strata920 – 性價比高，無損可靠

操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。

1、新型號設計

2、快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度

3、多款規(guī)格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型

4、開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等

5、符合ISO3487和ASTM B568檢測方法

Oxford Instruments牛津儀器還有以下產品：

CMI760臺式PCB孔面銅測厚儀

MM805臺式PCB孔面銅測厚儀

CMI165便攜式PCB面銅測厚儀（帶溫度補償功能）

MM615  便攜式PCB面銅測厚儀

CMI563便攜式PCB面銅測厚儀

CMI500 便攜式PCB孔銅測厚儀

MM610  便攜式PCB孔銅測厚儀

MM125  便攜式PCB銅箔測厚儀

MM125A 便攜式PCB銅箔測厚儀

十多年來，奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和的服務都得到客戶zui高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。

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